Title of article :
IOC-LP: hybrid test data compression/ decompression scheme for low power testing
Author/Authors :
Chun، نويسنده , , S.; Kim، نويسنده , , Y.; Yang، نويسنده , , M.-H.; Kang، نويسنده , , S.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2006
Pages :
8
From page :
391
To page :
398
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Serial Year :
2006
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Record number :
371842
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=371842