مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Characterisation of the VG ESCALAB instrumental broadening functions by XPS measurements at the Fermi edge of silver

Title of article :

Characterisation of the VG ESCALAB instrumental broadening functions by XPS measurements at the Fermi edge of silver

Author/Authors :

S. M?hl، نويسنده , , M. Neumann، نويسنده , , S. Dieckhoff، نويسنده , , V. Schlett and A. Baalmann، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1997

Pages :

From page :

197

To page :

203

Keywords :

line broadening , Fermi edge , Photoelectron spectroscopy

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

1997

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

378806

Link To Document :