مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Surface core-level shifts of Si(111)7 × 7: a critical evaluation of the Si2p analysis

Title of article :

Surface core-level shifts of Si(111)7 × 7: a critical evaluation of the Si2p analysis

Author/Authors :

G. Le Lay، نويسنده , , A. Cricenti، نويسنده , , C. Ottaviani، نويسنده , , C. Haokansson، نويسنده , , P. Perfetti and K.C. Prince، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1998

Pages :

From page :

711

To page :

715

Keywords :

Silicon , surface reconstruction , Core-level spectroscopy

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

1998

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

378979

Link To Document :