مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري

Title of article :

USXES investigations of thin film TiSi2

Author/Authors :

S.I. Kurganskii and E.P. Domashevskaya، نويسنده , , Yu.A. Yurakov، نويسنده , , D.M. Bodnar and V.M. Kashkarov، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1998

Pages :

From page :

963

To page :

967

Keywords :

Ultrasoft X-ray spectra , Silicides

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

1998

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

379018

Link To Document :