Author/Authors :
M. Marsi، نويسنده , , S. Gu¨nther، نويسنده , , A. Kolmakov، نويسنده , , J. Kovac، نويسنده , , L. Casalis، نويسنده , , L. Gregoratti، نويسنده , , D. Lonza and M. Kiskinova، نويسنده ,
Keywords :
Synchrotron radiation spectromicroscopy , Silicides , Scanning photoemission microscopy , Metal-semiconductorinterfaces