Title of article :
The effect of annealing time on the electronic structure of the Fe–Cu–Nb–Si–B alloys
Author/Authors :
Y. K. Chang، نويسنده , , Y. H. Cheng، نويسنده , , W. F. Pong، نويسنده , , M. -C. Tsai، نويسنده , , Y. Y. Chen and Y. Hwu، نويسنده , , J. W. Chiou، نويسنده , , J. C. Jan، نويسنده , , F. Z. Chien، نويسنده , , P. K. Tseng، نويسنده , , T. E. Dann، نويسنده , , M. S. Leu and T. S. Chin، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2001
Pages :
5
From page :
831
To page :
835
Keywords :
X-ray absorption near-edge-structure (XANES) , Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) , Amorphous , Fe–Si-based nanocrystal
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Serial Year :
2001
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Record number :
379588
Link To Document :
بازگشت