Title of article :
Resonant magnetic X-ray scattering from ultrathin Ho–metal films down to a few atomic layers
Author/Authors :
C. Schü?ler-Langeheine، نويسنده , , E. Weschke، نويسنده , , A. Yu. Grigoriev، نويسنده , , Steven H. Ott، نويسنده , , N. R. Meier-Melikyan، نويسنده , , D. V. Vyalikh، نويسنده , , Chandan Mazumdar and G. Kaindl، نويسنده , , C. Sutter، نويسنده , , D. Abernathy، نويسنده , , G. Grübel and G. Kaindl، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2001
Pages :
5
From page :
953
To page :
957
Keywords :
L 5 3 , Holmium , magnetic structure , M , Ultrathin films , Resonant magnetic X-ray scattering
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Serial Year :
2001
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Record number :
379606
Link To Document :
بازگشت