Title of article :
NIST data resources for surface analysis by X-ray photoelectron spectroscopy and Auger electron spectroscopy
Author/Authors :
C. J. Powell، نويسنده , , A. Jablonski، نويسنده , , A. Naumkin، نويسنده , , A. Kraut-Vass، نويسنده , , J. M. Conny and J. R. Rumble، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2001
Pages :
6
From page :
1097
To page :
1102
Keywords :
Standardtest data , databases , Surface analysis , Electron inelastic mean free paths , Electron elastic-scattering cross sections , X-ray photoelectron spectroscopy , Auger-electron spectroscopy
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Serial Year :
2001
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Record number :
379627
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=379627
بازگشت