مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Measurement of the electronic structure of crystalline silicon by electron momentum spectroscopy

Title of article :

Measurement of the electronic structure of crystalline silicon by electron momentum spectroscopy

Author/Authors :

M. Vos، نويسنده , , C. Bowles، نويسنده , , A. S. Kheifets، نويسنده , , V. A. Sashin، نويسنده , , E. Weigold and F. Aryasetiawan، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2004

Pages :

From page :

629

To page :

632

Keywords :

Band index , Many body theory , Electron momentum spectroscopy , Silicon , Spectral function , Electron correlation

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

2004

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

380107

Link To Document :