Reaction microscopes applied to study atomic and molecular fragmentation in intense laser fields: non-sequential double ionization of helium
Author/Authors :
V.L.B. de Jesus، نويسنده , , A. A. Rudenko and D. I. Chekhov ، نويسنده , , B. Feuerstein، نويسنده , , K. Zrost، نويسنده , , C.D. Schr?ter، نويسنده , , R. Moshammer and J. Ullrich، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2004
Pages :
16
From page :
127
To page :
142
Keywords :
Non-sequential double ionization , Reaction microscope , Recollision model
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Serial Year :
2004
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
