مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Determination of the source of two extra components in Si 2p photoelectron spectra of the SiO2/Si(1 0 0 ) interface

Title of article :

Determination of the source of two extra components in Si 2p photoelectron spectra of the SiO2/Si(1 0 0 ) interface

Author/Authors :

S. Dreiner، نويسنده , , M. Schürmann، نويسنده , , M. Krause، نويسنده , , U. Berges and C. Westphal، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2005

Pages :

From page :

405

To page :

408

Keywords :

Interface , Ultrathin silicon oxide , Photoelectron

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

2005

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

380321

Link To Document :