مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - LEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2

Title of article :

LEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2

Author/Authors :

S. Heun and M. Kiskinova، نويسنده , , S. Kremmer، نويسنده , , D. Ercolani، نويسنده , , H. Wurmbauer and C. Teichert، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2005

Pages :

From page :

1163

To page :

1166

Keywords :

LEEM , SiO2 , C-AFM , XPEEM

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

2005

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

380489

Link To Document :