مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - An X-ray photoelectron spectroscopy study of BaAl2S4 thin films

Title of article :

An X-ray photoelectron spectroscopy study of BaAl2S4 thin films

Author/Authors :

Philippe F. Smet، نويسنده , , Jo E. Van Haecke، نويسنده , , Roland L. Van Meirhaeghe and Dirk Poelman، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2005

Pages :

From page :

To page :

Keywords :

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) , Electroluminescence , Impurities in semiconductors , Thin films , Thermal annealing , BaAl2S4

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

2005

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

380521

Link To Document :