مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - X-ray absorption spectroscopy in total electron yield mode of scanning photoelectron microscopy

Title of article :

X-ray absorption spectroscopy in total electron yield mode of scanning photoelectron microscopy

Author/Authors :

G.B. Kim، نويسنده , , H.J. Song، نويسنده , , H.J. Shin and C.K. Hong، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2005

Pages :

From page :

137

To page :

141

Keywords :

SPEM , TEY , XANES , scanning

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

2005

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

380528

Link To Document :