Title of article
Power loss and junction temperature analysis of power semiconductor devices
Author/Authors
Dewei Xu، نويسنده , , Haiwei Lu، نويسنده , , Lipei Huang، نويسنده , , Azuma، نويسنده , , S.، نويسنده , , Kimata، نويسنده , , M.، نويسنده , , Uchida، نويسنده , , R.، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2002
Pages
6
From page
1426
To page
1431
Keywords
junction temperature , insulated gate bipolar transistor , power loss.
Journal title
IEEE Transactions on Industry Applications
Serial Year
2002
Journal title
IEEE Transactions on Industry Applications
Record number
381503
Link To Document