Author/Authors :
Vu، نويسنده , , K.، نويسنده , , Begovic، نويسنده , , M.M.، نويسنده , , Novosel، نويسنده , , D.، نويسنده , , Saha، نويسنده , , M.M.، نويسنده ,
Keywords :
Thevenin equivalent , loadshedding. , Local Measurements , Voltage stability , Voltage-Stability Margin , SMARTDevice