Implementation of surface roughness scattering in Monte Carlo modeling of thin SOI MOSFETs using the effective potential

Ramey، نويسنده , , S.M.، نويسنده , , Ferry، نويسنده , , D.K.، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2003

5

110

114

Monte Carlo methods , MOSFETs , semiconductor-insulator interfaces , quantumtheory , silicon on insulator(SOI) technology.

IEEE Transactions on Nanotechnology

2003

IEEE Transactions on Nanotechnology

398337