Author/Authors :
Tsutsui، نويسنده , , G.، نويسنده , , Hideo Nagumo، نويسنده , , T.، نويسنده , , Hiramoto، نويسنده , , T.، نويسنده ,
Keywords :
Body effect factor , threshold voltage , ultrathin body SOI MOSFET , variablethreshold CMOS (VTCMOS). , quantum confinement effects