Author/Authors :
DeHon، نويسنده , , A.، نويسنده , , Goldstein، نويسنده , , S.C.، نويسنده , , Kuekes، نويسنده , , P.J.، نويسنده , , Lincoln، نويسنده , , P، نويسنده ,
Keywords :
Defect tolerance , electronic nanotechnology , memory density , memory organization , molecular electronics.