Title of article :
Reliability scaling issues for nanoscale devices
Author/Authors :
McMahon، نويسنده , , W.، نويسنده , , Wafaa M. Haggag، نويسنده , , A.، نويسنده , , Hess، نويسنده , , K.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2003
Pages :
6
From page :
33
To page :
38
Keywords :
Dielectric breakdown , hot-carrier , silicon. , MOSFET
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2003
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398565
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=398565
