Title of article :
Effects of dopant granularity on superhalo-channel MOSFETs according to two- and three-dimensional computer simulations
Author/Authors :
Voon-Yew Aaron Thean، نويسنده , , Sadd، نويسنده , , M.، نويسنده , , White، نويسنده , , B.E.، نويسنده , , Jr.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2003
Pages :
5
From page :
97
To page :
101
Keywords :
Fluctuations , Numerical simulation. , MOSFET
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2003
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398576
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=398576