Title of article :
On the FinFET extension implant energy
Author/Authors :
Gossmann، نويسنده , , H.-J.L.، نويسنده , , Agarwal، نويسنده , , A.، نويسنده , , Parrill، نويسنده , , T.، نويسنده , , Rubin، نويسنده , , L.M.، نويسنده , , Poate، نويسنده , , J.M.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2003
Pages :
6
From page :
285
To page :
290
Keywords :
FinFET , MOSFET , Double-gate MOSFET , extension-implant , semiconductor device and process modeling , spike-annealing , ultrashallow junction.
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2003
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398603
Link To Document :
بازگشت