• Title of article

    Effects of strong correlations in single electron traps in field-effect transistors

  • Author/Authors

    Mozyrsky، نويسنده , , D.، نويسنده , , Martin، نويسنده , , I.، نويسنده ,

  • Issue Information
    روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
  • Pages
    6
  • From page
    90
  • To page
    95
  • Keywords
    Impurities , magnetoelectric effects , MOS devices , tunneling.
  • Journal title
    IEEE Transactions on Nanotechnology
  • Serial Year
    2005
  • Journal title
    IEEE Transactions on Nanotechnology
  • Record number

    398704