Title of article :
Modeling hysteresis phenomena in nanotube field-effect transistors
Author/Authors :
Robert-Peillard، نويسنده , , A.، نويسنده , , Rotkin، نويسنده , , S.V.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Pages :
5
From page :
284
To page :
288
Keywords :
nanotube(NT) nonvolatile memory , tunneling. , Nanotechnology , hysteresis , NT transistors , Field-effect transistors (FETs) , Electrostatics of one-dimensional (1-D) systems
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2005
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398729
Link To Document :
بازگشت