Impact of single charge trapping in nano-MOSFETs-electrostatics versus transport effects

Alexander، نويسنده , , C.L.، نويسنده , , Brown، نويسنده , , A.R.، نويسنده , , Watling، نويسنده , , J.R.، نويسنده , , Asenov، نويسنده , , A.، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2005

6

339

344

MonteCarlo (MC) , MOSFETs , Drift diffusion (DD) , random telegraph signals. , impurity scattering

IEEE Transactions on Nanotechnology

2005

IEEE Transactions on Nanotechnology

398738