Title of article :
A combined chemical vapor deposition and rapid thermal diffusion process for SiGe Esaki diodes by ultra-shallow junction formation
Author/Authors :
Wernersson، نويسنده , , L.-E.، نويسنده , , Kabeer، نويسنده , , S.، نويسنده , , Zela، نويسنده , , V.، نويسنده , , Lind، نويسنده , , E.، نويسنده , , Zhang، نويسنده , , J.، نويسنده , , Seifert، نويسنده , , W.، نويسنده , , Kosel، نويسنده , , T.H.، نويسنده , , Seabaugh، نويسنده , , A، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Pages :
5
From page :
594
To page :
598
Keywords :
ultra-highvacuumchemical vapor deposition (UHV CVD). , tunnel diode , Esaki diode , sIgE
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2005
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398775
Link To Document :
بازگشت