Author/Authors :
Guangyong Li، نويسنده , , Ning Xi، نويسنده , , Heping Chen، نويسنده , , Pomeroy، نويسنده , , C.، نويسنده , , Prokos، نويسنده , , M، نويسنده ,
Keywords :
Atomic force microscopy (AFM) , augmentedreality , haptic feedback , nanomanipulation.