Title of article :
On the evaluation of scaling of QCA devices in the presence of defects at manufacturing
Author/Authors :
Momenzadeh، A. نويسنده , , M.، نويسنده , , Jing Huang، نويسنده , , IEEE Mehdi B. Tahoori، نويسنده , , M.B.، نويسنده , , Lombardi، نويسنده , , F.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Pages :
4
From page :
740
To page :
743
Keywords :
Defect tolerance , quantum-dot cellular automata(QCA) , scaling.
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2005
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398795
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=398795
