Title of article :
A Novel Spacer Process for Sub-10-nm-Thick Vertical MOS and Its Integration With Planar MOS Device
Author/Authors :
Cho، نويسنده , , H.، نويسنده , , Kapur، نويسنده , , P.، نويسنده , , Kalavade، نويسنده , , P.، نويسنده , , Saraswat، نويسنده , , K.C.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2006
Pages :
10
From page :
554
To page :
563
Keywords :
Corner thinning , FINFETs , gate leakage current , MOS capacitors , vertical pillars.
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2006
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398877
Link To Document :
بازگشت