3-D Monte Carlo Simulation of the Impact of Quantum Confinement Scattering on the Magnitude of Current Fluctuations in Double Gate MOSFETs

Riddet، نويسنده , , C.، نويسنده , , Brown، نويسنده , , A. R.، نويسنده , , Alexander، نويسنده , , C. L.، نويسنده , , Watling، نويسنده , , J. R.، نويسنده , , Roy، نويسنده , , S.، نويسنده , , Asenov، نويسنده , , A.، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2007

8

48

55

Monte Carlo , Double gate MOSFET , Numericalsimulation , variability. , Quantum corrections

IEEE Transactions on Nanotechnology

2007

IEEE Transactions on Nanotechnology

398910