Comparing Reliability-Redundancy Tradeoffs for Two von Neumann Multiplexing Architectures

Bhaduri، نويسنده , , D.، نويسنده , , Shukla، نويسنده , , S.، نويسنده , , Graham، نويسنده , , P.، نويسنده , , Gokhale، نويسنده , , M.، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2007

15

265

279

interconnect , Majority , Multiplexing , NANOTECHNOLOGY , probabilistic transfer matrices , noise , probabilistic model checking , Probability , Reliability. , fault-tolerance

IEEE Transactions on Nanotechnology

2007

IEEE Transactions on Nanotechnology

398939