Author/Authors :
Tresback، نويسنده , , J.S.، نويسنده , , Vasiliev، نويسنده , , A.L.، نويسنده , , Padture، نويسنده , , N.P.، نويسنده , , Si-Young Park، نويسنده , , Berger، نويسنده , , P.R.، نويسنده ,
Keywords :
electron microscopy , Electrical properties , heterojunctions , nanowires , Nickel oxide , single-nanowire devices , temperatureeffects.