Title of article :
An Analysis of Internal Parameter Variations Effects on Nanoscaled Gates
Author/Authors :
Martorell، نويسنده , , F.، نويسنده , , Cotofana، نويسنده , , S.D.، نويسنده , , Rubio، نويسنده , , A.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2008
Pages :
10
From page :
24
To page :
33
Keywords :
nonlinear functions. , Nanotechnology , Fault tolerance , Logic design
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2008
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
399012
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=399012
