Title of article :
Measurement of Capacitances in Multigate Transistors by Coulomb Blockade Spectroscopy
Author/Authors :
Hofheinz، نويسنده , , M.، نويسنده , , Jehl، نويسنده , , X.، نويسنده , , Sanquer، نويسنده , , M.، نويسنده , , Cerutti، نويسنده , , R.، نويسنده , , Cros، نويسنده , , A.، نويسنده , , A. Coronel، نويسنده , , P.، نويسنده , , Brut، A. نويسنده , , H.، نويسنده , , SKOTNICKI، Stefan H. نويسنده , , T.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2008
Pages :
5
From page :
74
To page :
78
Keywords :
Quantum dots , quantum effect semiconductor devices , stacked transistors.
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2008
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
399018
Link To Document :
بازگشت