Title of article :
Testing: Itʹs not just pass/fail anymore
Author/Authors :
Scott Davidson، نويسنده , , Sun Microsystems، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Pages :
1
From page :
80
To page :
80
Journal title :
IEEE Design and Test of Computers
Serial Year :
2005
Journal title :
IEEE Design and Test of Computers
Record number :
431557
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=431557
بازگشت