مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Characterization of thin film produced by quantum dot deposition process

Title of article :

Characterization of thin film produced by quantum dot deposition process

Author/Authors :

Shigeo Aono، نويسنده , , Masayuki Itoh and Fumiaki Nagase، نويسنده , , Hiroshi Takano، نويسنده , , Susumu Tohno، نويسنده ,

Issue Information :

ماهنامه با شماره پیاپی سال 1996

Pages :

From page :

149

To page :

150

Keywords :

Nann-phase Particles , Thin film , Aerosol Process , Quantum Dot Deposition

Journal title :

Journal of Aerosol Science

Serial Year :

1996

Journal title :

Journal of Aerosol Science

Record number :

733832

Link To Document :