مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - پياده سازي و توسعه يك الگوريتم توليد الگوي تست براي مدارهاي ديجيتال تركيبي و فشرده سازي تستها

چكيده :

جهان پيشرفته امروز به طور افزاينده اي به سيستم هاي الكترونيكي به طور اعم و به سيستم هاي ديجيتالي مثل كامپيوترها به طور اخص وابستگي پيدا كرده است . براي اطمينان از صحت كار اين سيستم ها، بايد اين سيستم ها را تست نمود. براي تست ، ابتدا معايب مدل مي شوند و سپس الگوريتم هايي جهت توليد مقادير دودويي مناسب در ورودي هاي مدار به منظور ظاهر نمودن اين عيوب در خروجي هاي مدار بكار برده مي شوند. اين مقادير دودويي مناسب را الگوي تست مي نامند. الگوريتم هاي توليد الگوي تست براي مدارهاي VLSI از سال 1970 مورد توجه محققان و طراحان مدارهاي مجتمع قرار گرفته است . در اين پايان نامه به شرح الگوريتمي براي تست مدارهاي منطقي تركيبي پرداخته شده است . ايده اصلي در اين الگوريتم نمايش يك تابع منطقي توسط يك گراف مي باشد. اين الگوريتم برمبناي نمايش يك تابع بولي با استفاده از نمودارهاي تصميم گيري دودويي مرتب شده كاهش يافته Reduced Ordered Binary Decision Diagrams( )ROBDDs( بنا شده است ROBDD . يك ساختمان داده گرافيكي براي نمايش موثر توابع بولي با گرافهاي جهت دار چرخشي acyclic است . اين گرافها نشان دهنده بسط شانون يك تابع منطقي مي باشند و براي يك تركيب خاص متغيرها ساخته مي شوند. در اين پايان نامه چگونگي استفاده از اين نمودارها براي تست مدارهاي ديجيتالي بيان شده است و نشان داده شده است كه سرعت توليد الگوي تست توسط اين روش نسبت به روشهاي قبلي افزايش قابل ملاحظه اي دارد. اين الگوريتم برروي يك مقايسه گر 4 بيتي اجرا شده است .