Author :
Prater Chrissy E. استاد مشاور , Zlatko Sitar استاد راهنما , Davis استاد مشاور , Nemanich استاد مشاور
Keyword :
diamond , silicon carbide , SiC , diamond , SI , fused interface , bonded interface , Interface , fusion bonding , Wafer bonding , Silicon , TEM , Microscopy , electrical measurements , I-V measurements