DocumentCode :
8639
Title :
Thermal Stability of Transistion Metal Nitrides as NMOS Gate Electrodes
Author :
Gerald Lucovsky استاد مشاور , Dennis Maher استاد مشاور , Jon - paul Maria استاد مشاور , Veena Misra استاد راهنما
University :
Raleigh North carolina state university
Grade :
نامعلوم
Major :
PhD )Materials Science and Engineering(
Number of pages :
0
Publish Date :
2002
Keyword :
metal gate electrode tantalum nitride
Note :
01
Language :
انگليسي
Link To Document :
بازگشت