Title :
Mobility Degradation of Advanced CMOS Devices
Author :
Veena Misra استاد راهنما , Griff Bilbro استاد مشاور , Eric Vogel استاد مشاور , Gerry Lucovsky استاد مشاور , Jayant Baliga استاد مشاور
University :
Raligh North Carolina state university
Major :
PhD )Electrical Engineering(
Keyword :
bulk trapping , interface traps , Interfaces , charge pumping , MOSFET , high k dielectrics , metal gate electrodes
