Author :
Christopher Roland استاد مشاور , George Rozgonyi استاد مشاور , Gerd Duscher استاد راهنما , J. Michael Rigsbee استاد مشاور , Mark Johnson استاد مشاور
Keyword :
Dislocation , eels , STEM , characterization , SIMULATION , Al2O3 , Defects , Z-Contrast , SI , high k dielectric , GaAS , HfO2