شماره ركورد :
20194
شماره مدرك :
4375127
نويسنده/تنالگان :
Yablon
عنوان :
Scanning Probe Microscopy in Industrial Applications: Nanomechanical Characterization
اطلاعات نشر :
Wiley
سال نشر :
2013
شابك :
1118723147;9781118288238;1118288238;9781118723111;9781118723142;1118723112
Link To Document :
بازگشت