شماره ركورد :
38268
شماره مدرك :
4400890
نويسنده/تنالگان :
Brandon Noia
عنوان :
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
اطلاعات نشر :
Springer
سال نشر :
2014
شابك :
9783319023786;9783319023779
Link To Document :
https://search.ricest.ac.ir/dl/search/defaultta.aspx?DTC=26&DC=38268
