شماره ركورد :
47698
شماره مدرك :
4400553
نويسنده/تنالگان :
Jacopo Franco
عنوان :
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
اطلاعات نشر :
Springer
سال نشر :
2014
شابك :
9789400776630;9789400776623
Link To Document :
https://search.ricest.ac.ir/dl/search/defaultta.aspx?DTC=26&DC=47698
