ريخت شناسي و بدست آوردن ضريب بافت براي نانوكريستال هاي Au - Pd تهيه شده به روش تبخير با باريكه ي الكتروني

Morphology and obtain texture coefficient of Au-Pd nano-crystals that have prepared by electron beam evaporation method

در اين مقاله چهار نمونه ي لايه نازك Au-Pd مورد بررسی قرار گرفته است كه به روش تبخير با باريكه ي الكتروني تهيه و در دمای 600 ° C پخت داده شده اند. ضریب بافت اين نمونه ها با استفاده از آناليز طيف سنج پراش پرتو XRD) X) كه به منظور تعيين مشخصات ساختاري پوشش ها انجام مي گيرد، محاسبه مي شود. همچنین ریخت شناسی و ویژگی های ساختار سطح آنها از طریق تصاویر میكروسكوپ الكترونی رویشی ( SEM) و میكروسكوپ رویشی نیروی اتمی (AFM) بررسی شده است.

In this research four samples Au-Pd thin films have been studied. These samples were prepared by electron beam evaporation method and were annealed at temperatures of 600 °C . Texture coefficient of these samples has been counted by using X-ray diffraction (XRD) spectrometery, which was used to characterize the surface structure of prepared thin films. Also, morphology and their surface structure features have been investigated through scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) images