مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - اندازه گيري ضخامت لايه نشاني با دقت بالا

شماره ركورد كنفرانس :

2727

عنوان مقاله :

اندازه گيري ضخامت لايه نشاني با دقت بالا

پديدآورندگان :

انعامي مهرداد نويسنده

تعداد صفحه :

5

كليدواژه :

نانومتر , روش تبخيري , QCM , ضخامت

سال انتشار :

1395

عنوان كنفرانس :

اولين كنفرانس بين المللي دستاوردهاي نوين پژوهشي در مهندسي برق و كامپيوتر

زبان مدرك :

فارسی

شماره مدرك كنفرانس :

4240260

سال انتشار :

1395

از صفحه :

1

تا صفحه :

5

سال انتشار :

1395

لينک به اين مدرک :

https://search.ricest.ac.ir/dl/search/defaultta.aspx?DTC=36&DC=115826

بازگشت