شماره ركورد كنفرانس :
3232
عنوان مقاله :
رشد لايه هاي نازك سولفيد روي و بررسي خواص اپتيكي آن به روش سان پل
عنوان به زبان ديگر :
Growth of ZnS thin films and investigation on their optical properties by Swanepeol method
پديدآورندگان :
جمشيدي زواركي اصغر دانشگاه سمنان - گروه فيزيك - آزمايشگاه لايه نازك , رضاقلي پور ديزجي حميد دانشگاه سمنان - گروه فيزيك - آزمايشگاه لايه نازك , احساني محمدحسين دانشگاه سمنان - گروه فيزيك - آزمايشگاه لايه نازك
كليدواژه :
لايه هاي نازك سولفيد روي , لايه شيشه معمولي , روش سان پل , روش تخير حرارتي در خلاء
سال انتشار :
مرداد 1388
عنوان كنفرانس :
كنفرانس فيزيك ايران ۱۳۸۸
زبان مدرك :
فارسي
چكيده فارسي :
لايه هاي نازك سولفيد روي با ضخامت هاي مختلف ( 500 و 800 و 1100 نانو متر) روي زير لايه شيشه معمولي در دماي اتاق به روش تخير حرارتي در خلاء تهيه گرديد. آناليزاپتيكي لايه هاي نازك به روش سان پل حاكي از آن است كه با كاهش ضخامت، درصد عبور در طول موج هاي بين 800-350 نانومتر افزايش مي يابد. آناليزساختاري نشان مي دهد كه لايه ها در ساختار هگزاگنال ساده چگاليده شده اند و با افزايش ضخامت، شدت قله ( 103 ) افزايش يافته و همچنين قله ( 110 ) در ضخامت هاي بالاتر ظاهر مي شود كه اين نشان دهنده ي تاثير ضخامت لايه روي خواص ساختاري است.
چكيده لاتين :
Thin films of zinc sulfide with different thicknesses (500, 800 and 1100nm) have been deposited on glass substrates using thermal evaporation method at room temperature. Optical analysis of the thin layers using Swanepeol method indicated that the decreasing the thickness would lead to increase in transmittance in the wavelength range of 350-800nm. Structural analysis revealed that films have simple hexagonal structure. It was observed that increase in the thickness of the layer would cause the increase in the peak intensity corresponding to the (103) plane. The peak due to (110) plane appeared in films of greater thickness indicating the effect of film thickness on the structural properties.
كشور :
ايران
تعداد صفحه 2 :
4
از صفحه :
1297
تا صفحه :
1300
لينک به اين مدرک :
بازگشت