شماره ركورد كنفرانس :
3216
عنوان مقاله :
نانو ساختار نيتريد سيليكون در نانو قطعات الكترونيكي
عنوان به زبان ديگر :
Nano structure of Silicon Nitride in Nano electronic devices
پديدآورندگان :
اطيابي مينا دانشگاه مازندران - دانشكده علوم پايه - گروه فيزيك , باقري مسهر دانشگاه مازندران - دانشكده علوم پايه - گروه فيزيك , اميري مسعود دانشگاه مازندران - دانشكده علوم پايه - گروه فيزيك , فرهنگ راد رحمت الله دانشگاه مازندران - دانشكده علوم پايه - گروه فيزيك , فدايي مژده دانشگاه مازندران - دانشكده علوم پايه - گروه فيزيك , اكبري سمانه دانشگاه مازندران - دانشكده علوم پايه - گروه فيزيك , بهاري علي دانشگاه مازندران - دانشكده علوم پايه - گروه فيزيك
كليدواژه :
نانو ساختار نيتريد سيليكون , نانو قطعات الكترونيكي , فيزيك , ضخامت گيت دي الكتريك , لايه آمورف
سال انتشار :
شهريور 1386
عنوان كنفرانس :
كنفرانس فيزيك ايران ۱۳۸۶
چكيده فارسي :
رشد كوچك شدگي سريع ضخامت گيت دي الكتريك باعث شده است تا اكسيد سيليكون فوق نازك را نتوان به عنوان گيت دي الكتريك مناسب در ترانزيستور هاي آتيCMOSدانست از جمله مواد جانشين نيتريد سيليكون است كه داده هاي سيكروتروني و تجزيه و تحليل ساختار فيلم مزبور با Fitxps نشان داده شده است كه از لايه مياني ( آمورف ) با زير لاي هاي سيليكون برخوردار است . چون لايه آمورف باعث كاهش جريان تونل زني ونشتي مي شود مي تواند به عنوان يك گيت دي الكتريك مناسب باشد.
چكيده لاتين :
The shrinking of the gate dielectric is so fast in that ultra thin oxide can not be used as a good dielectric in the future of CMOS generation. We Analaysed deconvoluted the synchrotron spection with Fitxps we found an amorphous interface between nitride silicon film and Silicon substrate. there for amorphous interface can reduse the tunneling and leakage current it can be as a good gate dielectric of CMSI
كشور :
ايران
تعداد صفحه 2 :
3
از صفحه :
1
تا صفحه :
3
لينک به اين مدرک :
بازگشت