Fluxgate قايسه پارامترهاي قابليت اطمينان مدارهاي مختلف زيرسيستم الكترونيك حسگر مغناطيسي

The Comparison of Reliability Parameters of Different Circuits of Fluxgate Magnetic Sensor's Electronic Subsystem

اين مقاله به ارزيابي و مقايسه پارامترهاي قابليت اطمينان مدارهاي مختلف زيرسيستم الكترونيك حسگر Fluxgate مي پردازد. با توجه به اينكه خرابي و عملكرد نادرست زيرسيستم الكترونيك در تحريك حسگر مي تواند نشأت گرفته از مدارهاي تشكيل دهنده آن باشد، بنابراين تعيين مدارهاي داراي بيشترين و كمترين سهم در خرابي زيرسيستم از طريق محاسبه پارامترهايي از جمله نرخ خرابي هاي رخداده و متوسط زمان تا خرابي هر مدار ضروري است. تعيين اينكه كدام مدار داراي متوسط زمان تا خرابي كمتري بوده و در نتيجه سريعتر از ساير مدارها زيرسيستم الكترونيك را در معرض خرابي و كاستن از قابليت اطمينان آن قرار مي دهد و همچنين تعيين مدارهايي كه بيشترين و كمترين ميزان قابليت اطمينان را دارا هستند؛ از طريق ارزيابي و مقايسه پارامترهاي قابليت اطمينان مدارهاي مختلف با روش درخت خطا صورت مي گيرد. نتايج محاسبات نشان مي دهند كه مدارهاي RS485 و V-F به ترتيب داراي بيشترين و كمترين ميزان قابليت اطمينان مي باشند و با توجه به متوسط زمان تا خرابي به دست آمده؛ مدار V-F اولين مداري است كه خراب مي گردد و سريعتر از ساير مدارها زيرسيستم الكترونيك حسگر را در معرض خراب شدن قرار مي دهد.

This paper evaluates and compares the reliability parameters of various circuits of a fluxgate sensor's electronic subsystem. According to that the failure of the electronic subsystem can be due to its circuits, so the determination of the circuits with the highest and lowest contribution to the subsystem failure through calculating parameters such as the failure rate and the mean time to failure is essential. Determining the circuit with the fewer mean time to failure, and consequently, faster than other circuits causes the subsystem to fail, and also determining the circuits that have the highest and lowest reliability levels is done through fault tree method. The results of the calculations show that the RS458 and Vin-F circuits have the highest and lowest reliability, respectively. According to the calculated mean time to failure, the Vin-F circuit is the first circuit to fail and the fastest one to cause the electronic sybsystem to fail.