استفاده از ليزر Nd:Yag در شبيه سازي اثرات تك رخداد پرتوهاي كيهاني بر ادوات الكترونيكي

Simulation of Single Event Effects of Cosmic Rays on Electronic Devices by Nd:Yag Laser

پرتوهاي كيهاني همواره تهديدي مهم براي پروژه هاي فضايي محسوب مي شوند. از اين رو تعيين ضريب امنيت ماهواره و به تبع آن كاهش هزينه هاي پروژه با انجام تست هايي بر روي زمين، از اهميت بالايي برخوردار است. در اين مقاله سعي بر آن شده پس از معرفي ليزر به عنوان يكي از روش هاي تست مدارهاي مجتمع الكتريكي، اثرگذاري شدت آن بر روي SRAM به صورت تجربي بررسي شود. نتايج بدست آمده مؤيد اين مطلب است كه ليزر با شدت بالا مي تواند همانند ذرات پر انرژي عمل كند.

Cosmic rays are always considered an important threat to the project space. Therefore the safety coefficient Determination of the satellite and consequently reduction cost of the project, by testing on the ground, is important. This paper is intended to introduce the laser as a test method of integrated circuits, then laser Intensity effect on the SRAM to be investigated experimentally. Obtained results confirmed that high-intensity laser and energetic particles have same effects